透射电子显微镜

来源:分析测试中心      发布时间:2013-11-12



 

生产厂家:日本电子(JEOL) 
规格型号: JEM-2100(UHR)
技术参数及指标:
        分辨率:点分辨率 0.19 nm;线分辨率  0.14 nm
        加速电压:80、100、120、160、200 kV
        放大倍数:50~1,500,000

样品要求:
        不可测试样品:易燃易爆、和易升华样品、磁性材料、有机材料;
        可测样品送样要求:固体、薄膜、粉末样品;
        样品需提供的信息:注明样品大致形态、摄片倍数及是否要做衍射晶格。

主要用途:可实现材料微观组织形貌、晶体结构和微区成分的同位分析。 
应用领域:主要应用于材料科学、纳米技术和生命科学等领域 。  
 
联系地址:中试基地1楼 透射电镜室

联系电话:86323691-201